Технология «умного» контроля электромагнитной обстановки
Интенсивное использование электромагнитной энергии в современном мире привело к глобальному электромагнитному загрязнению окружающей среды. Источники электромагнитных излучений (ЭМИ) получают всё более широкое распространение на производственных и коммунально-бытовых объектах. При этом усиливается воздействие на биологические объекты, а также информационно-технологическое оборудование, в том числе построенное на основе микропроцессорных устройств, что повышает актуальность обеспечения электромагнитной совместимости.
Для адекватной оценки электромагнитной обстановки предлагается учитывать одновременное воздействие различных составляющих электромагнитного поля (ЭМП) во всем нормируемом спектре неионизирующих ЭМИ до оптического диапазона в условиях изменения параметров микроклимата, а также влияния целого ряда факторов, искажающих представление о картине опасности ЭМИ. К таким факторам можно отнести неопределённость зон контроля параметров ЭМП на поверхности источников излучения из-за неравномерного распределения контролируемых показателей, возможность повышения интенсивности излучения внутри нормативно установленных границ частотных диапазонов вследствие наложения полей, воздействие ЭМП, создаваемых вторичными и внешними источниками излучения.
Евгений Титов,
ведущий научный сотрудник в области науки «Техника и технологии. Энергетика и рациональное природопользование» АлтГТУ им. И. И. Ползунова
Интенсивное использование электромагнитной энергии в современном мире привело к глобальному электромагнитному загрязнению окружающей среды. Источники электромагнитных излучений (ЭМИ) получают всё более широкое распространение на производственных и коммунально-бытовых объектах. При этом усиливается воздействие на биологические объекты, а также информационно-технологическое оборудование, в том числе построенное на основе микропроцессорных устройств, что повышает актуальность обеспечения электромагнитной совместимости.
Для адекватной оценки электромагнитной обстановки предлагается учитывать одновременное воздействие различных составляющих электромагнитного поля (ЭМП) во всем нормируемом спектре неионизирующих ЭМИ до оптического диапазона в условиях изменения параметров микроклимата, а также влияния целого ряда факторов, искажающих представление о картине опасности ЭМИ. К таким факторам можно отнести неопределённость зон контроля параметров ЭМП на поверхности источников излучения из-за неравномерного распределения контролируемых показателей, возможность повышения интенсивности излучения внутри нормативно установленных границ частотных диапазонов вследствие наложения полей, воздействие ЭМП, создаваемых вторичными и внешними источниками излучения.
Евгений Титов,
ведущий научный сотрудник в области науки «Техника и технологии. Энергетика и рациональное природопользование» АлтГТУ им. И. И. Ползунова