🇯🇵 Fujitsu втрое увеличила выходную мощность транзисторов на базе GaN



Компания Fujitsu Laboratories объявила об успешной разработке кристаллической структуры, позволяющей существенно нарастить предельно допустимый ток и напряжение в транзисторах HEMT GaN, выходная мощность за счет этого выросла втрое.



Аббревиатура HEMT происходит от англ. High Electron Mobility Transistor - транзисторы с высокой подвижностью электронов, находят применение в системах спутниковой связи, радарах и мобильных устройствах, прежде всего в СВЧ. Как правило это достигается добавлением в систему материалов с высокой подвижностью электронов, например, GaAs, InAs. Создание подобных структур требует использования так называемых буферных слоев, позволяющих формировать бездефектные слои материалов с различными размерами кристаллических ячеек.



Новая технология может использоваться в усилителях мощности в таких приборах, как погодные радары, позволяя увеличить “дальнобойность” радара примерно в 2.3 раза.



Основная идея заключается в том, что напряжение должно подводиться к транзистору “дисперсно”. Запатентованная технология позволила добиться плотности мощности до 19.9 Вт/мм в GaN HEMT, использующим буферные слои InAlGaN.



Компания рассказала о своей технологии на симпозиуме ISGN-8 в Варшаве, которая прошла на прошлой неделе.

Fujitsu Laboratories работает с GaN HEMT с начала нулевых годов и обеспечивает поставки приборов на основе AlGaN HEMT. В последние месяцы лаборатория активно занимается исследованиями InAlGaN HEMT.



Для того, чтобы повысить выходную мощность транзистора, требуется создать структуру, которая бы выдерживала и высокие токи и высокие напряжения. Структура на базе InAlGaN позволяет повысить ток, поскольку в таком материале можно наращивать плотность электронов. Но проблемой оставалось то, что при повышении напряжения, структура кристалла получала повреждения.